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  • BGA三维检测设备

    该设备是一款基于机器视觉和3D激光的BGA芯片批量检测设备,实现对芯片正反面的外观、焊球、字符、外形尺寸等检测,整个设备包括硬件和软件两部分。其中硬件部分由3D视觉平台,2D视觉平台及相关光学系统和相关辅助设备,具有托盘拆垛、翻转、码垛、出料等功能,可在线使用。

    产品介绍

    该设备是一款基于机器视觉和3D激光的BGA芯片批量检测设备,实现对芯片正反面的外观、焊球、字符、外形尺寸等检测,整个设备包括硬件和软件两部分。其中硬件部分由3D视觉平台,2D视觉平台及相关光学系统和相关辅助设备,具有托盘拆垛、翻转、码垛、出料等功能,可在线使用。

    适用行业

    微电子、芯片、光伏、精密电子、LCD、五金、医疗,计量及科研院所等行业。

    检测示例

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    产品参数

    类别型号
    SY H-A3DOI-BGA
    Y轴行程600mm
    X轴行程400mm
    外形尺寸1390*800*1700mm
    设备重量320kg
    激光类型线激光
    图像传感器2000万工业相机
    镜头广角镜头
    视野范围330*220mm
    测量精度≤5um
    工作距离260mm
    光源环形光、条型光
    软件SY H-3D-V 1.0
    工作环境温度:22℃±2℃湿度:30~80%
    振动:<0.002mm/s,<15Hz
    电源220V/50Hz
    咨询电话

    138-6611-7201

    安徽省合肥市高新区习友路2666号合肥创新院研发楼

    hsni@iim.ac.cn

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